纽约理工学院的研究人员将使用超过35万美元的奖励来开发微波成像来测试复合管道。

纽约理工学院授权NSF资助开发复合管道测试-复合材料网

来源| NYIT

纽约理工学院(纽约理工学院,纽约,纽约,美国)的教师获得了美国国家科学基金会(NSF;美国弗吉尼亚州亚历山大市)超过35万美元的奖学金,用于开发测试非金属圆筒等成像技术。作为复合油气管道。

根据纽约理工学院的报告,复合材料管道由于耐腐蚀性而迅速取代 石油和天然气行业的金属管道,但这些材料的可靠和快速安全测试仍然是一个挑战。因此,纽约理工学院电气和计算机工程助理教授Reza Khalaj Amineh和Maryam Ravan将与纽约理工学院工程与计算科学学院的研究生和本科生 一起调整现有的全息成像技术,以进行专门为圆柱形物体,如管道。

“开发有助于维护管道安全性和完整性的技术将支持我们所依赖的基础设施,并有助于防止潜在的环境灾难,” 纽约理工学院工程与计算科学学院院长Babak D. Beheshti博士说  。

自2017年以来,Amineh和Ravan一直致力于该项目,并得到了NYIT内部资助的支持,该项目为其应用电磁学研究实验室(AEMRL)的启动付出了代价。他们的新NSF资助目标是生产一种原型,可以在各种应用中对复合材料进行快速可靠的测试。如果成功,他们表示该技术将大大降低成本,提高石油和天然气开采,城市基础设施和其他依赖管道的运营的系统安全性。其他潜在的应用可能包括生物医学成像和安全筛查。

该补助金还将支付执行射频(RF)和微波测量的设备,这些设备将加入Amineh和Ravan为AEMRL获得或发明的现有设备。此外,拨款39,000美元用于雇用学生研究人员。Amineh和Ravan正在积极寻找代表性不足的少数民族和妇女从事该项目,目的是使该领域多样化并增加这些群体在电气工程领域的职业选择。

该项目于2019年9月1日正式启动,尽管Amineh,Ravan和一个学生团队已经开始了理论和硬件开发。学生研究人员正在帮助开发成像过程的理论部分,并正在构建一个基于现成组件的成本有效的成像系统,并进行初步测试,以了解所提出的成像技术的能力和局限性,设计用于所提出的成像设置的天线,以及设计在初始测试中使用的圆柱形扫描设置。

“我们很高兴扩大纽约理工学院的影响范围,包括微波成像。Ravan博士和我在无损检测(NDT)和近场微波成像方面拥有丰富的经验,AEMRL将向我们的学生展示如何开发低成本,紧凑,快速,稳健的微波无损检测方法,“Amineh说。 。